旧ONJ表面技術講座
2010-2009年 開催日・題目一覧
このページはすでに終了した技術講座の開催一覧です。現在開講中の講座の開催予定をご覧ください。
Aコース <表面技術講座>
第1回 | 表面分析概論[1](電子線、X線の発生と制御) | 吉原先生 | 2009年9月8日 |
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第2回 | 表面分析概論[2] (イオンビームの発生と制御、トンネル電流、原子間力) |
野副先生 | 2009年10月1日 |
第3回 | 表面分析技術各論[1](LEED, RHEED, SEM, TEM) | 吉原先生 | 2009年11月11日 |
第4回 | 表面分析技術各論[2](EPMA, AES) | 吉原先生 | 2009年12月9日 |
第5回 | 表面分析技術各論[3](XPS) | 吉原先生 | 2010年1月21日 |
第6回 | 表面分析技術各論[4](RBS) | 吉原先生 | 2010年2月9日 |
第7回 | 表面分析技術各論[5](SIMS) | 工藤先生 | 2010年3月25日 |
第8回 | 表面分析技術各論[6](STM, AFM) | 野副先生 | 2010年4月20日 |
第9回 | 分析データ解析技術各論[1] (平滑化、微分、フーリエ変換) |
吉原先生 | 2010年5月20日 |
第10回 | 分析データ解析技術各論[2] (量子化学計算に基づいたスペクトルシミュレーション 1) |
遠藤先生 | 2010年6月15日 |
第11回 | 分析データ解析技術各論[2] (量子化学計算に基づいたスペクトルシミュレーション 2) |
遠藤先生 | 2010年7月21日 |
第12回 | 多変量解析の実際と分析事例解析 | 吉原先生 | 2010年8月24日 |
Cコース <ナノインデンテーション基礎講座>
第1回 | Introduction: ナノインデンテションの気持ちとユーザーの姿勢 |
叶先生 | 2009年10月22日 |
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第2回 | 基本接触 (Meyer’s Law, Hertzian Solution, Sneddon’s Solution) |
叶先生 | 2009年11月24日 |
第3回 | 圧子の剛性・形状(Tip rigidity and Geometry) | 叶先生 | 2009年12月15日 |
第4回 | 薄膜の密着性定量評価 | 叶先生 | 2010年1月22日 |
第5回 | 硬さ・弾性率計測[1] (原理編:Oliver-Pharr手法と影響因子) |
叶先生 | 2010年2月26日 |
第6回 | 硬さ・弾性率計測[2] (応用編:高温計測事例、CSM計測事例) |
叶先生 | 2010年3月30日 |
第7回 | 降伏応力・弾性率計測 (球状圧子法と応用事例) | 叶先生 | 2010年4月16日 |
第8回 | 実際の計測と事例解釈1 | 叶先生 | 2010年5月28日 |
第9回 | S-S曲線(加工硬化指数)計測 (dual indentation法と応用事例) |
叶先生 | 2010年7月29日 |
第10回 | 粘弾性計測(原理、手法と応用事例) | 叶先生 | 2010年8月26日 |
第11回 | その他の最新手法[1](Nanoscratch法など) | 叶先生 | 2010年9月30日 |
第12回 | その他の最新手法[2](TEMその場計測など) | 叶先生 | 2010年10月日 |
第13回 | 実際の計測と事例解釈2 | 叶先生 | 2010年11月 日 |
年度別の開催日・題目一覧
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