旧ONJ表面技術講座　コース詳細


2012-2013年 Cコース 第5回 「(１）装置校正方法 （２）薄膜測定事例(DLCから高分子まで）」


日時 2013年4月25日 13:30-17:00
内容 (１）装置校正方法 （２）薄膜測定事例(DLCから高分子まで）
講師 Ian Thomas Clark
資料代 3000円
会場 当社セミナールーム
東京都大田区蒲田5-30-15　第20下川ビル　Room_301　　地図はこちら
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