表面技術講座 コース詳細


2017-2018年 Aコース 第8回 「局所分析(STM,AFM、顕微法)の基礎と応用」

日時 2018年4月18日(水) 13:30-17:00
内容 局所分析(STM,AFM、顕微法)の基礎と応用
局所分析法の基礎となる顕微鏡法の原理を基礎から平易に理解できるように述べる。続いて、マッピング技法(走査プローブ顕微鏡法)につて詳述する。最後に、原子まで見える顕微鏡である走査トンネル顕微鏡(STM),原子間力顕微鏡(AFM)の原理、測定手法等について詳述する。
講師 当社技術顧問 野副 尚一
資料代 3000円
会場 社内セミナールーム
東京都品川区南大井6-16-4 戸浪大森ビル 2F  地図はこちら
お申し込み お申し込みフォームをお使いください




開催日・内容一覧へ戻る
Top