表面技術講座 コース詳細


2017-2018年 Aコース 第4回 「イオンビームを利用した表面分析法(ISS,SIMS)の基礎と応用」

日時 2017年12月20日(水) 13:30-17:00
内容 イオンビームを利用した表面分析法(ISS,SIMS)の基礎と応用
講師 吉原 一紘 先生
資料代 3000円
会場 社内セミナールーム
東京都品川区南大井6-16-4 戸浪大森ビル 2F  地図はこちら
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