旧ONJ表面技術講座 コース詳細


2014-2015年 Aコース 第6回 「回折現象を利用した表面分析法(XRD,LEED,RHEED)」

日時 2015年2月18日(水) 13:30-17:00
内容 回折現象を利用した表面分析法(XRD,LEED,RHEED)
講義シラバスPDF
講師 当社技術顧問 野副 尚一
資料代 3000円
会場 社内セミナールーム
東京都品川区東品川3-32-42 ISビル 5F  地図はこちら
お申し込み お申し込みフォームPDFをお使いください




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